Cp: 精度指针 (precision)
Cp=T/(6σp)
规格为单边时:Cp=(Tu-X)/3σp 或 Cp=(X-Tl)/3σp
单边规格系指某一边的尺寸受到局限不能超越,如『平面度』、『平行度』只能大不能小。
Ck: 准度指针 (accuracy)
Ck=(M-X)/(T/2)
Cpk: 精、准度综合指针
Cpk=(1-Ck) x Cp
M: 规格中心
T: 规格宽度
Tu: 规格上限
Tl: 规格下限
X: 群体之平均值
σp: 群体之标准偏差
在这三个指针中,一般以Cp为制程能力之指针,因为一般人认为生产制程之精度(Cp)就代表制程能力,而想要改善Cp值,通常意味着要提高制程或是更换较精良的机器,一般来说短时间内是无法马上获得改善的。 就像打靶一样,如果有一个人把六发子弹全部都打在同一个位置上,表示这个人的打靶「精度」很高,相反地如果全部都分散开来很远就表示其精度很低,精度低的人则很难成为神射手。
但准度(Ck)则不然,通常可经由人为的控制而获得改善,只是一般人认为太简单而加以忽略。 再以打靶为例,如果有一个人打了六发子弹都没有打中靶心,可是每颗子弹都打在靶纸上,跟一个六发子弹有一颗打在靶心,可是其他五颗连靶纸都没有打中的人比较,那一个人的准度比较高,当然是全部打在靶纸上的准度比较高。
再以打靶为例好了,如果我们只是一味地改善Cp而忽略Ck,就有可能发生把六发子弹全部打在同一个位置(高Cp),可是却全部打在靶纸边缘(低Ck)的憾事,所以只考虑Cp似稍嫌不足,因为Ck确实还是会影响到打靶的成绩,也会影响到整体产品的质量。 因此就有了综合制程Cpk的产生,它是将Ck与Cp两种指针综合起来,有了Cpk综合指针对于改制程能力之衡量,就更为合理了。
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